기밀성 테스터

본문에서는 제조 기업의 기밀성 검사 라인 효율 저하의 근본 원인을 분석했다. 기존 검사 장비는 제품이 불합격 판정을 받았는지 여부와 관계없이 정해진 검사 주기를 모두 완료해야 하므로, 이로 인해 막대한 ‘무의미한 대기 시간’이 발생한다. 이 글에서는 정성공과(JCGK)의 솔루션을 소개한다. ‘지능형 조기 판정 기능’을 통해 개별 제품 검사 시간을 단축할 수 있으며, 동시에 연구 개발 단계에서 완전한 데이터 수집을 위해 엔지니어링 모드를 유지할 수 있다. 또한 매개변수 최적화, 다중 스테이션 병렬 처리 등 효율을 높이는 방안들에 대해서도 설명한다.