気密試験_LEDランプケース

同じ製品を2回測定したところ、測定値が次第に低くなっていった――気密装置の問題ではなく、測定方法が間違っていたのだ

本稿では、気密性試験において、初回データが高値を示し、その後徐々に低下する現象は、機器の故障ではなく、試験方法の不適切さに起因するものであることを解説する。根本的な原因は、製品に初めて加圧した際に生じる弾性変形にある。十分に減圧・復元を行わずに連続して試験を行うと、材料の応力解放過程が漏れ値に重なり、データに系統的なドリフトが生じる。標準手順では、完全な減圧、回復時間の確保、温度管理、および治具の一貫性が求められており、これらの条件を満たして初めて、装置の再現性を真に評価することができる。